Sobre
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Secretaría: JISC
Responsable de comité: -
Presidente/a (hasta el final 2029):Dr Satoshi Gonda
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Responsable de programa técnico de ISO [TPM]:Responsable editorial de ISO [EM]:
- Fecha de creación: 1991
Alcance
Standardization in the field of surface chemical analysis. Surface chemical analysis includes analytical techniques in which beams of electrons, ions, neutral atoms or molecules, or photons are incident on the specimen material and scattered or emitted electrons, ions, neutral atoms or molecules, or photons are detected. It also includes techniques in which probes are scanned over the surface and surface-related signals are detected.
Excluded:
- Scanning electron microscopy which is within the scope of ISO/TC 202.
Note:
With current techniques of surface chemical analysis, analytical information is obtained for regions close to a surface (generally within 20 nm) and analytical information-versus-depth data are obtained with surface analytical techniques over greater depths.
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Aplicaciones electrónicas de ISO
Herramientas de TI que apoyan el proceso de desarrollo de normas -
Material público
Consulte los documentos que pone a disposición este grupo
Este comité contribuye con 10 normas a los siguientes Objetivos de Desarrollo Sostenible:
Referencia | Título | Tipo |
---|---|---|
ISO/TC 201/SC 1 | Terminology | Subcomité |
ISO/TC 201/SC 2 | General procedures | Subcomité |
ISO/TC 201/SC 3 | Data management and treatment | Subcomité |
ISO/TC 201/SC 4 | Depth profiling | Subcomité |
ISO/TC 201/SC 6 | Secondary ion mass spectrometry | Subcomité |
ISO/TC 201/SC 7 | Electron spectroscopies | Subcomité |
ISO/TC 201/SC 8 | Glow discharge spectroscopy | Subcomité |
ISO/TC 201/SC 9 | Scanning probe microscopy | Subcomité |
ISO/TC 201/SC 10 | X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis | Subcomité |
ISO/TC 201/SG 1 | Nano-materials characterization | Grupo de trabajo |
ISO/TC 201/SG 2 | Surface Analysis of Energy Materials | Grupo de trabajo |
ISO/TC 201/WG 4 | Surface characterization of biological materials | Grupo de trabajo |
ISO/TC 201/WG 5 | Optical interface analysis | Grupo de trabajo |
Comités de enlace a ISO/TC 201
Los comités que aparecen a continuación pueden acceder a los documentos de ISO/TC 201:
Referencia | Título | ISO/IEC |
---|---|---|
IEC/TC 113 | Nanotechnology for electrotechnical products and systems | IEC |
ISO/IEC JTC 3 | Quantum technologies | ISO/IEC |
ISO/TC 107 | Metallic and other inorganic coatings | ISO |
ISO/TC 172/SC 5 | Microscopes and endoscopes | ISO |
ISO/TC 202 | Microbeam analysis | ISO |
ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
Comités de enlace de ISO/TC 201
ISO/TC 201 pueden acceder a los documentos de los comités que aparecen a continuación:
Referencia | Título | ISO/IEC |
---|---|---|
IEC/TC 113 | Nanotechnology for electrotechnical products and systems | IEC |
ISO/TC 150 | Implants for surgery | ISO |
ISO/TC 172/SC 5 | Microscopes and endoscopes | ISO |
ISO/TC 202 | Microbeam analysis | ISO |
ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
Fecha | Mes | Ubicación | TC/SC | Nota |
---|---|---|---|---|
13 | September 2024 | La Rochelle (France) | ISO/TC 201/SC 6 | |
7 | October 2024 | Virtual () | ISO/TC 201/SC 10 | |
14-16 | November 2024 | Eulji-ro (Korea, Republic of) | ISO/TC 201 |
* Información definitiva, pero la reunión aún no se ha convocado formalmente
** Provisional
ISO/TC 201 - Secretaría
JISC [Japan]
1-2-3 Ninomiya,
Tsukuba
Ibaraki 305-0051
Japan