Modificacion
ISO 17331:2004/Amd 1:2010
Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy — Amendment 1
Reference number
ISO 17331:2004/Amd 1:2010
Edición 1
2010-07
© ISO 2024
Modificacion
Vista previa
No disponible en español
Publicado (Edición 1, 2010)

ISO 17331:2004/Amd 1:2010

Formato
Idioma
CHF 18
Convertir Franco suizo (CHF) a tu moneda

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2010-07
    Etapa
    : Norma Internacional publicada [60.60]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 2
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 201
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Objetivos de Desarrollo Sostenible

Esta norma contribuye a los siguientes Objetivos de Desarrollo Sostenible

7
Affordable and Clean Energy
9
Industry, Innovation and Infrastructure

Got a question?

Check out our FAQs

Customer care
+41 22 749 08 88

Opening hours:
Monday to Friday - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Tienda
  3. Standards catalogue
  4. ICS
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.40
  8. ISO 17331:2004/Amd 1:2010