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Résumé

Establishes a reference system incorporating all calibrated motions of rotation and displacement on the microscope and its accessories so that the measuring procedures are uniform. Particular attention is given to the polarization parameters and measuring accessories.

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 1996-12
    Stade
    : Norme internationale confirmée [90.93]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 6
  • Comité technique :
    ISO/TC 172/SC 5
    ICS :
    37.020 
  • RSS mises à jour
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