ISO 9220:1988
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ISO 9220:1988
16849

État actuel : Annulée

Cette norme a été révisée par ISO 9220:2022

Résumé

La présente Norme internationale prescrit une méthode pour le mesurage de l'épaisseur locale des revêtements métalliques par examen de coupes transversales au microscope électronique à balayage. La méthode est destructive et a une incertitude correspondant à la plus grande des deux valeurs 10 % ou 0,1 µm. Elle est utilisable pour des épaisseurs pouvant atteindre plusieurs millimètres, mais il est habituellement plus pratique, si cela est possible, d'utiliser un microscope optique (ISO 1463).

Informations générales

  •  : Annulée
     : 1988-10
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  •  : 1
     : 5
  • ISO/TC 107
    25.220.40 
  • RSS mises à jour

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