Norme internationale
ISO 17470:2014
Analyse par microfaisceaux — Analyse par microsonde électronique (Microsonde de Castaing) — Lignes directrices pour l'analyse qualitative ponctuelle par spectrométrie de rayons X à dispersion de longueur d'onde (WDX)
Numéro de référence
ISO 17470:2014
ISO 17470:2014
Edition 2
2014-01
2014-01
© ISO 2024
Norme internationale
p
ISO 17470:2014
64783
Indisponible en français
Publiée
(Edition 2, 2014)
Cette norme a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2019.
Cette édition reste donc d’actualité.
Résumé
ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.
Informations générales
-
État actuel: PubliéeDate de publication: 2014-01Stade: Norme internationale en cours d'examen systématique [90.20]
-
Edition: 2
-
Comité technique :ISO/TC 202/SC 2ICS :71.040.99
- RSS mises à jour
Cycle de vie
-
Précédemment
AnnuléeISO 17470:2004
-
Actuellement
PubliéeISO 17470:2014
Les normes ISO sont réexaminées tous les cinq ans
Stade: 90.20 (En cours d'examen)
Vous avez une question?
Consulter notre FAQ
Service à la clientèle
+41 22 749 08 88
Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)