Reference number
ISO 19668:2017
© ISO 2025
International Standard
ISO 19668:2017
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
Edition 1
2017-08
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Indisponible en français
Publiée (Edition 1, 2017)

ISO 19668:2017

Langue
Format
CHF 132
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Résumé

ISO 19668:2017 specifies a procedure by which elemental detection limits in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be estimated from data for a particular sample in common analytical situations and reported. This document is applicable to homogeneous materials and is not applicable if the depth distribution of elements is inhomogeneous within the information depth of the technique.

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2017-08
    Stade
    : Clôture de l'examen [90.60]
  • Edition
     : 1
  • Comité technique :
    ISO/TC 201/SC 7
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

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9
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