État actuel : Publiée (En cours d'examen)

Format Langue
PDF + ePub
Papier
  • CHF129
Convertir les francs suisses (CHF) dans une autre devise

Résumé

Le présent document décrit les grandeurs d'influence et les caractéristiques des instruments utilisés dans les systèmes de microscopie confocale (MC) pour le mesurage surfacique de la topographie des surfaces. Comme les profils de surface peuvent être extraits des images par topographie de surface, les métodes décrites dans le présent document peuvent également être appliqués aux mesures de profilage

Standard first page

Prévisualiser 

Prévisualiser cette norme sur notre Plateforme de consultation en ligne (OBP)

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2019-03
    Stade
    : Norme internationale en cours d'examen systématique [90.20]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 22
  • Comité technique :
    ISO/TC 213
    ICS :
    17.040.20 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Store
  3. Catalogue de normes
  4. TC
  5. ISO/TC 213
  6. ISO 25178-607:2019