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Résumé

This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

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Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2024-02
    Stade
    : Norme internationale publiée [60.60]
  • Edition
     : 2
  • Comité technique :
    ISO/TC 202
    ICS :
    71.040.50 
  • RSS mises à jour

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9
Industrie, innovation et infrastructure

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