ISO/TS 25138:2010
w
ISO/TS 25138:2010
42774
Текущий статус : Отозвано
Это стандарт пересмотренISO/TS 25138:2019

Тезис

ISO/TS 25138:2010 describes a glow-discharge optical-emission spectrometric method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of metal oxide films.

The method is applicable to oxide films 1 nm to 10 000 nm thick on metals. The metallic elements of the oxide can include one or more from Fe, Cr, Ni, Cu, Ti, Si, Mo, Zn, Mg, Mn and Al. Other elements that can be determined by the method are O, C, N, H, P and S.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 2010-12
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 8
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)