Ссылочный номер
ISO/TS 10867:2010
Технические спецификации
ISO/TS 10867:2010
Nanotechnologies — Characterization of single-wall carbon nanotubes using near infrared photoluminescence spectroscopy
Версия 1
2010-09
В время отменен
ISO/TS 10867:2010
46245
Отозвано (Версия 1, 2010)

Тезис

ISO/TS 10867:2010 provides guidelines for the characterization of single-wall carbon nanotubes (SWCNTs) using near infrared (NIR) photoluminescence (PL) spectroscopy.

ISO/TS 10867:2010 provides a measurement method for the determination of the chiral indices of the semi-conducting SWCNT in a sample and their relative integrated PL intensities.

The method can be expanded to estimate relative mass concentrations of semi-conducting SWCNTs in a sample from measured integrated PL intensities and knowledge of their PL cross-sections.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 2010-09
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 229
    07.120 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ