Reference number
ISO 15932:2013
International Standard
ISO 15932:2013
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary
Edition 1
2013-12
Preview
ISO 15932:2013
55560
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2013)

ISO 15932:2013

ISO 15932:2013
55560
Язык
Формат
CHF 129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 15932:2013 defines terms used in the practice of AEM. It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order. It is applicable to all standardization documents relevant to the practice of AEM. In addition, some parts of this International Standard are applicable to those documents relevant to the practice of related fields (e.g. TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX) for the definition of those terms common to them.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2013-12
    : Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 202/SC 1
    37.020  01.040.37 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ