ISO/TS 17915:2013
Optics and photonics — Measurement method of semiconductor lasers for sensing
Reference number
ISO/TS 17915:2013
Версия 1
2013-07
© ISO 2024
В время отменен
Отозвано (Версия 1, 2013)

Тезис

ISO/TS 17915:2013 describes methods of measuring temperature, injected current dependence and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications. ISO/TS 17915:2013 is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields. ISO/TS 17915:2013 is an application of ISO 13695, in which the physical bases are explained.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Отозвано
    Дата публикации
     : 2013-07
    Этап
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 172/SC 9
    ICS :
    31.260 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 31
  6. 31.260
  7. ISO/TS 17915:2013