International Standard
ISO 15632:2021
Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers (EDS) for use with a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA)
Reference number
ISO 15632:2021
Версия 3
2021-02
© ISO 2024
International Standard
Предпросмотр
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 3, 2021)

ISO 15632:2021

Формат
Язык
CHF 96
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document defines the most important quantities that characterize an energy-dispersive X‑ray spectrometer consisting of a semiconductor detector, a pre-amplifier and a signal-processing unit as the essential parts. This document is only applicable to spectrometers with semiconductor detectors operating on the principle of solid-state ionization. This document specifies minimum requirements and how relevant instrumental performance parameters are to be checked for such spectrometers attached to a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA). The procedure used for the actual analysis is outlined in ISO 22309[2] and ASTM E1508[3] and is outside the scope of this document.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2021-02
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 3
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202
    ICS :
    71.040.99 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.99
  8. ISO 15632:2021