Тезис
This document specifies a procedure by which the intensity scale of an X-ray photoelectron spectrometer which employs a concentric hemispherical analyser can be calibrated using low-density poly(ethylene). This document is applicable to instruments using quartz-crystal-monochromated Al Kα X-rays and is suitable for all instrument geometries. The intensity calibration is only valid for the specific settings of the instrument (pass energy or retardation ratio, lens mode, slit and aperture settings) used during the calibration procedure. The intensity calibration is suitable for intensity calibration at kinetic energies higher than 180 eV. This document is not applicable to XPS instruments which do not have a low energy electron flood source or instruments that have a non-linear intensity response. This document is not applicable to instruments and operating modes which generate significant intensity from electrons scattered internally in the spectrometer.
Общая информация
-
Текущий статус: В стадии разработкиЭтап: Рассылка полного отчета: проект международного стандарта принят для регистрации в качестве окончательного проекта международного стандарта [40.99]
-
Версия: 1
-
Технический комитет :ISO/TC 201/SC 7ICS :71.040.40
- RSS обновления
Preview
Жизненный цикл
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)