ISO/AWI TS 23879
Nanotechnologies — Structural characterization of graphene oxide flakes: thickness and lateral size measurement using AFM and SEM
Reference number
ISO/AWI TS 23879
Версия 1
© ISO 2024
Working draft
В стадии разработки
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.

Тезис

This document describes methods for measuring the lateral size and thickness of graphene oxide (GO) flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) respectively, including sample pre-treatments, measurement procedures and data analysis. It is applicable to the characterization of graphene oxide in powder and liquid dispersion forms.

Общая информация

  • Текущий статус
     : В стадии разработки
    Этап
    : Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 229
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 229
  6. ISO/AWI TS 23879