Reference number
ISO 29301:2023
© ISO 2024
International Standard
ISO 29301:2023
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures
Edition 3
2023-10
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 3, 2023)

ISO 29301:2023

Язык
Формат
CHF 173
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document specifies a calibration procedure applicable to images recorded over a wide magnification range in a transmission electron microscope (TEM). The reference materials used for calibration possess a periodic structure, such as a diffraction grating replica, a super-lattice structure of semiconductor or an analysing crystal for X-ray analysis, and a crystal lattice image of carbon, gold or silicon.

This document is applicable to the magnification of the TEM image recorded on a photographic film, or an imaging plate, or detected by an image sensor built into a digital camera. This document also refers to the calibration of a scale bar.

This document does not apply to the dedicated critical dimension measurement TEM (CD-TEM) and the scanning transmission electron microscope (STEM).

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2023-10
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 3
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 3
    ICS :
    37.020 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 37
  6. 37.020
  7. ISO 29301:2023