International Standard
ISO 17297:2025
Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
Reference number
ISO 17297:2025
Edition 1
2025-05
Preview
ISO 17297:2025
84897
Indisponible en français
Publiée (Edition 1, 2025)

ISO 17297:2025

ISO 17297:2025
84897
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CHF 98
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Résumé

This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).

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