International Standard
ISO 17297:2025
Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
Reference number
ISO 17297:2025
Edition 1
2025-05
Preview
ISO 17297:2025
84897
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2025)

ISO 17297:2025

ISO 17297:2025
84897
Язык
Формат
CHF 98
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2025-05
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 202/SC 1
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ