ISO 13424:2013

Последний раз этот стандарт был пересмотрен в 2021. Поэтому данная версия остается актуальной

Тезис

ISO 13424:2013 specifies the minimum amount of information required in reports of analyses of thin films on a substrate by XPS. These analyses involve measurement of the chemical composition and thickness of homogeneous thin films, and measurement of the chemical composition as a function of depth of inhomogeneous thin films by angle-resolved XPS, XPS sputter-depth profiling, peak-shape analysis, and variable photon energy XPS.

Общая информация

Текущий статус
: Опубликовано

Дата публикации
: 2013-10
Версия
: 1
Технический комитет
: ISO/TC 201/SC 7 Electron spectroscopies
ICS
:
71.040.40 Chemical analysis

Приобрести данный стандарт

	Формат	Язык
std 1 166	PDF + ePub
std 2 166	Бумажный

CHF166

Жизненный цикл

Сейчас

Опубликовано

ISO 13424:2013

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет
Этап: 90.93 (Подтверждено)

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами

+41 22 749 08 88

customerservice@iso.org

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

недоступно на русском языке